AOI ist eine Technologie zur automatischen und präzisen Prüfung von Leiterplatten (PCB) auf Fehler wie Kurzschlüsse und Unterbrechungen. Die optische Inspektion wird während des Herstellungsprozesses nach dem Ätzen durchgeführt.

The microscope system SASAM, especially designed for the investigation of biological samples, allows for the use of advanced signal processing methods in this frequency range, due to the direct digitization of the high frequency signal.

Die AOI ist somit eine Schlüsseltechnologie in der Fertigung elektronischer Bauteile, die eine hohe Produktqualität und Zuverlässigkeit gewährleistet.

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Im speziell für die Untersuchung von biologischen Proben ausgelegten Mikroskopiesystem SASAM können durch die direkte Abtastung des hochfrequenten Signals Verfahren der herkömmlichen Ultraschallprüfung auch in diesem Frequenzbereich eingesetzt werden.

Im Frequenzbereich bis 1 GHz wird mit akustischen Linsen hoher numerischer Apertur eine Auflösung von minimal 1 µm erreicht.

Wir sind ein europäischer Hersteller und Entwickler von Leiterplatten und flexiblen Leiterplatten, spezialisiert auf schnelle Lieferung der Prototypen in Kleinserien.

Kameras nehmen hochauflösende Bilder der Leiterplattenoberfläche auf, die von einer Software auf Fehler analysiert werden. Hochentwickelte Algorithmen ermöglichen die Erkennung kleinster Anomalien, was zu einer hohen Prüfsicherheit führt.

In the frequency range up to 1 GHz using transducer-lens systems with high numerical aperture, a resolution in the range of 1 micron can be achieved.

It has a maximum aperture of 0.35 – that ’ s the highest numerical aperture ( NA ) that has ever been achieved with a stereo microscope worldwide.

With increasing aperture size of telescopes, the maximum possible theoretical resolution of observations increases as well.

Zu den Vorteilen der AOI gehören die hohe Prüfgeschwindigkeit, die Genauigkeit, die Fähigkeit zur automatischen Fehlererkennung und die Möglichkeit, Form- oder Größenänderungen von Bauteilen zu verfolgen. Dies erhöht die Effizienz des Produktionsprozesses und senkt die Kosten für die Fehlerbehebung.

Basierend auf den optischen Gesetzen von Ernst Abbe erzielt das Leica M205 FA damit eine optische Auflösung von 1050 LP / mm ( Linienpaare pro Millimeter ) bzw. 0,952 µm.

Based on the optical laws of Ernst Abbe, the Leica M205 FA therefore attains an optical resolution of 1050 LP / mm ( line pairs per millimeter ) or 0.952 µm.

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Es verfügt über eine maximale Apertur von 0.35 – das ist die weltweit höchste numerische Apertur ( NA ), die bislang mit einem Stereomikroskop erreicht wurde.